用來檢查量塊或者其它具有同等級精度平面的測試件的平面度和研合性。
TESA 單色光單元
為了與光學單面平晶和光學雙面平晶配合使用，通過干涉法檢測測量面的平面度和平行度。
單色光源可提供高對比度的干涉條紋。該光源波長單一，這樣僅亮光條紋可見。
光源在測量面后邊的情況下，如借助刀口平心尺或刀口尺也可肉眼進行檢查。
TESA 量塊：
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