非接觸式三坐標測量的優(yōu)缺點

非接觸式三坐標測量，有如下突出的優(yōu)點：

(1) 能夠快速收集到測量曲面的計算機建模信息，用于CAD、FEM分析等；

(2) 測量點云能夠實現(xiàn)與CAD數(shù)據(jù)、工程圖或樣本的對比；

(3) 能夠對零件進行快速復制，快速成型或數(shù)控加工；

(4) 能夠應用數(shù)字化樣機；

(5) 能夠測量體積小、形狀復雜和體積很大的被測零件；

(6) 測量點云的噪聲點數(shù)量小，并且可以經(jīng)過調整而進一步減少噪聲點；

(7) 接觸式測量設備不能測量的結構，如內(nèi)部結構，各種柔軟的、易變形的物體和不可接觸的高精密被測件等；

(8) 能夠裝在機器人上實現(xiàn)自動測量；

(9) 重量輕、結構緊湊、操作簡單；

(10) 帶有先進的計算和渲染測量點云的功能。

 非接觸式三坐標測量的主要缺點：

(1) 因為非接觸式測頭大多是接收被測件表面的反射光或散射光，容易受到被測件表面的反射特性的影響，如顏色、斜率等；

(2) 測頭容易受到環(huán)境光線及雜散光影響；

(3) 非接觸式測量只做被測件輪廓坐標點的大量取樣，不能進行面上指定點的測量，對邊線及凹孔等的處理比較困難；

(4) 使用光學測頭測量時，測量鏡頭的焦距調整會影響測量精度；

(5) 被測件表面的粗糙度會影響測量結果；

(6) 光學陰影處及光學焦距變化處是測量死角。